Отчет ИВМ СО РАН за 2003 годВажнейшие научные достижения 2003 года
Модель реального вычислительного процесса на кластерах со сверхлинейным ускорением Номер научного направления ОИТВС: 2 Авторы научного результата:
Аннотация Для ряда вычислительных фрагментов решения сеточных аналогов задач математической физики при некоторых условиях обнаружено, а затем обосновано сверхлинейное ускорение вычислений на вычислительных кластерах, т.е. увеличение скорости вычислений на n процессорах более чем в n раз по сравнению с одним процессором несмотря на дополнительные операции межпроцессорного обмена данными. Причиной сверхлинейного ускорения является увеличение в n раз суммарного объема кэша всех используемых процессоров и, как следствие, более интенсивный обмен данными с кэшем, а не с оперативной памятью, что в несколько раз медленнее. Прямое подтверждение этой гипотезы получено ликвидацией эффекта сверхлинейного ускорения при отключении кэша у процессоров. Создана и экспериментально подтверждена модель вычислительного процесса с учетом n-кратного увеличения кэша, в явном виде указывающая условия достижения сверхлинейного ускорения вычислений при различных соотношениях числа процессоров и скоростей вычислений и межпроцессорных обменов. :
Численное моделирование трехмерных регулярных структур в стекающей пленке жидкости Номер научного направления ОИТВС: 2 Автор научного результата:
Аннотация Впервые получено теоретическое описание формирования регулярных структур (рис. 1) в локально нагреваемой стекающей жидкой пленке, недавно обнаруженных в экспериментах О. Кабова и др. (ИТ СО РАН). Использовался оригинальный метод частиц для несжимаемой жидкости, распространенный на случай вязкой теплопроводной жидкости с переменным поверхностным натяжением. Проведено численное моделирование конкретного эксперимента (О. Кабов и др., МЖГ, 2001, № 3). Сравнение результатов показало хорошее качественное и количественное согласие. В частности, пороговое значение плотности теплового потока, при котором возникает трехмерная неустойчивость, предсказывается расчетами с точностью до 5 %. Рассчитанные значения характерной ширины структур согласуются с экспериментом в пределах точности измерений. Расчеты также воспроизводят более тонкие эффекты, такие как увеличение ширины структуры и ее сдвиг вверх по потоку с увеличением нагрева. Рис. 1. Регулярная структура в стекающей жидкой пленке :
Технологии получения поверхностного износостойкого слоя на поверхности литых изделий с использованием нанопорошков Номер научного направления ОИТВС: 2 Автор научного результата:
Аннотация Сущность разработанного способа заключается в том, что в месте формирования изнашиваемой поверхности подготовленной к заливке литейной формы устанавливается специальная вставка, изготовленная из наплавочных порошков. В процессе заливки металла в форму происходит расплавление вставки с образованием в процессе кристаллизации на поверхности затвердевшей отливки легированного слоя толщиной до 5 мм. В результате введения в легирующую композицию нанопорошка (НП) TiCN твердость легированного слоя повысилась по сравнению с композицией без НП с 32,5 до 44,5 ед. HRC (на 36,9 %), а микротвердость твердого раствора легированного слоя повысилась с 2750 до 3900 МПа (на 41,8 %). Контрольные испытания показали, что относительная износостойкость легированного слоя при введении НП возросла на 45,8 % по сравнению со слоем, сформировавшимся из композиции, без добавления НП. Разработанная технология была использована для упрочнения тонкостенных отливок без дополнительных источников тепла с получением качественной литой поверхности за счет создания направленной кристаллизации отливки путем оптимизации соотношения толщины слоя легирующей композиции и толщины стенки отливки. :
Нормирование дефектов формы и ресурса вертикальныхстальных резервуаров Номер научного направления ОИТВС: 2 Авторы научного результата:
Аннотация Проведены комплексные исследования работоспособности вертикальных стальных резервуаров для хранения нефтепродуктов объемом 5 Установлена зависимость коэффициентов концентрации напряжений в упругой области от относительной глубины и приведенного радиуса дефекта. Для области упругопластического деформирования при расчетах коэффициентов концентрации напряжений и деформаций в зонах дефектов предложены аналитические соотношения типа уравнений Нейбера-Махутова. Выявлено, что для статистически обоснованных размеров дефектов коэффициенты концентрации напряжений варьируются в диапазоне от 2.5 до 12, а коэффициенты концентрации деформаций — в диапазоне от 2 до 10. Выявлено наличие резервов долговечности эксплуатирующихся резервуаров с дефектами формы. С учетом этого предложена методика нормирования размеров дефектов по условию обеспечения требуемого безопасного остаточного ресурса резервуаров. :
Разработка нейросетевых методов сокращения описания сложных кинетических систем (метод инвариантных сеток) Номер научного направления ОИТВС: 4 Авторы научного результата:
Аннотация Построен метод инвариантных сеток для выделения существенных степеней свободы и сокращения описания кинетических систем. Строящиеся сетки предоставляют пользователю аппроксимации инвариантных многообразий. Метод является развитием и трансформацией идей «растущего нейронного газа». Он применялся к сокращению описания в каталитических реакциях и в реакциях газофазного окисления. Основная часть вычислений проводится для каждого узла отдельно (связи появляются только при построении касательных пространств). Это обеспечивает параллельность созданных алгоритмов. Построенные сетки могут применяться для сокращения описания кинетических моделей, а также служить экраном при визуализации.
Приведен пример двумерной инвариантной сетки, построенной для модельной системы, упрощенно описывающей процесс горения водорода. Сетка представлена во внутренних координатах и используется как экран для визуализации динамики системы. Координатные оси соответствуют двум наибольшим временам релаксации (координаты даны в энтропийных единицах); в точке (0, 0) отмечено положение равновесия. :
Разработка нейросетевых методов визуализации генетических текстов Номер научного направления ОИВТА: 4 Авторы научного результата:
Аннотация На основании технологии визуализации многомерных данных получена информационная модель распределения участков генома в пространстве частот непересекающихся триплетов. Структура распределения отражает факт наличия в кодирующих областях выделенной кодирующей фазы. Проанализирована кластерная структура распределения фрагментов генома ряда прокариот в пространстве частот триплетов. Выделена базовая структура из 7 кластеров, характерная для генома прокариот. Центральный кластер соответствует некодирующим участкам генома, шесть боковых кластеров — белок кодирующим участкам, по три на каждую из комплементарных цепочек ДНК. Показано, что именно наличие данной кластерной структуры лежит в основе успешной работы большинства современных алгоритмов распознавания кодирующих участков. Проведен анализ тонкой структуры кластеров, соответствующих кодирующим участкам ДНК. Выделенные кластеры тонкой структуры связаны с функциональными особенностями кодируемых протеинов. Рис. 1. Визуализация распределения фрагментов генома C.cerevisiae Рис. 2. Структура из семи кластеров: кластер J соответствует некодирующим участкам генома (junk), кластеры P0, P1, P2 и C0, C1, C2 соответствуют белок кодирующим участкам, расположенным на основной (Р) и комплементарной (С) цепочке ДНК; индексы 0, 1 и 2 соответствуют сдвигу рамки считывания относительно стартового нуклеотида в кодирующем участке. :
|
Webmaster |